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·全面實現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。
·的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度，即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像是也不例外。
·無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結合，讓用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度。
·各種各樣的荷電緩解策略，包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。
·的分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
·樣品處理和導航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
·通過高級用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供專家級結果。
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