首頁(yè)>>深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>測(cè)厚儀>>電鍍層厚度測(cè)試儀
鍍層厚度測(cè)試儀器 參考價(jià)：109000
鍍層厚度測(cè)試儀器X熒光鍍層厚度測(cè)試機(jī)器設(shè)備滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試...
鍍層厚度分析儀器 參考價(jià)：109000
鍍層厚度分析儀器X熒光鍍層厚度分析機(jī)器設(shè)備φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm采用度定位激光...
鍍層厚度分析儀 參考價(jià)：109000
鍍層厚度分析儀X熒光鍍層厚度分析化驗(yàn)機(jī)器設(shè)備光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)...
鍍層厚度檢測(cè)儀器 參考價(jià)：109000
鍍層厚度檢測(cè)儀器X熒光鍍層厚度檢測(cè)機(jī)器設(shè)備采用度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)...
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)鍍層厚度儀器設(shè)備 參考價(jià)：109000
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)鍍層厚度儀器設(shè)備X熒光測(cè)量化驗(yàn)鍍層厚度機(jī)器設(shè)備分析含量：ppm～99.99％任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變...
測(cè)量鍍層儀器設(shè)備 參考價(jià)：125290
測(cè)量鍍層儀器設(shè)備X熒光微先鋒XRF-2020電鍍層厚度測(cè)試機(jī)器設(shè)備金屬元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為pp...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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