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140次METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒電子天平 XPR205/AC
配有LabX
一次即準(zhǔn)的結(jié)果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項(xiàng)條件處于更佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結(jié)果。
StaticDetect 靜電檢測
由于具備StaticDetect專業(yè)功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
始終可符合審計(jì)
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規(guī)性和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。
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