飛納掃描電鏡在質(zhì)檢工作中一直起著非常重要的作用，廣泛應(yīng)用于金屬材料、無機(jī)非金屬材料以及高分子材料的微觀形貌分析檢測等工作中。由于傳統(tǒng)的高真空掃描電鏡難干直接觀察檢測不導(dǎo)電樣品，而對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行噴金成者噴碳處理后雖然可以用傳統(tǒng)的掃描電鏡進(jìn)行檢測，但是這使得檢測過程費(fèi)時費(fèi)力，而且對于樣品的微觀形貌會造成影響和干擾，在用掃描電鏡的能譜儀配件進(jìn)行樣品的成分檢測時也會影響到檢測結(jié)果，對于含水樣品及不適合噴金處理的半導(dǎo)體樣品，傳統(tǒng)的掃描電鏡則不適合進(jìn)行檢測工作。因此，傳統(tǒng)的高真空掃描電鏡在質(zhì)檢工作中有很大的局限性。

       飛納掃描電鏡的發(fā)展極大的擴(kuò)展了掃描電鏡在質(zhì)檢中的應(yīng)用，而且極大的節(jié)省了樣品的處理時間與樣品的檢測時間，并且降低了檢測結(jié)果的各種干擾因素，使得檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。