TZ Sharp系列 大高寬比AFM探針
- 公司名稱(chēng) 探真納米科技(衢州)有限公司
- 品牌 探真納米
- 型號(hào) TZ Sharp系列
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/7/2 11:35:18
- 訪問(wèn)次數(shù) 25
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探真納米科技自主研制的TZ Sharp系列大高寬比AFM探針不僅在分辨率、使用壽命等關(guān)鍵指標(biāo)上優(yōu)于進(jìn)口同類(lèi)產(chǎn)品,更以高性?xún)r(jià)比優(yōu)勢(shì)成為AFM探針國(guó)產(chǎn)替代的優(yōu)選。
TZ Sharp系列大高寬比AFM探針產(chǎn)品特點(diǎn):
1、整體圓錐形針尖,擁有大高寬比,適用于各種領(lǐng)域采用輕敲模式的更多測(cè)試場(chǎng)景形貌檢測(cè)應(yīng)用。如:深溝槽、陡直臺(tái)階等。探針針尖半錐角小,只有~5。
2、針尖尖更細(xì)長(zhǎng)尖銳,相比棱錐型探針,同樣的磨損后依然很尖,使用壽命更長(zhǎng)。
3、具有噪音低,可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級(jí)臺(tái)階。
4、針托兩側(cè)側(cè)壁陡直,更容易夾取;而普通探針針托側(cè)壁是斜坡結(jié)構(gòu),夾取時(shí)容易掉落。
5、連接懸臂梁的針托未端是臺(tái)階結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),可以有更廣的激光入射角,對(duì)光路更加友好。