產(chǎn)品介紹：

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)又名溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)或恒溫槽，主要用于LED、LCD、PCB、電子、電器、通訊、新能源、儀器儀表、電工材料、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品及電子元?dú)饧仍谠诟叩蜏厮查g突變或交變循環(huán)高溫、低溫環(huán)境下，檢驗(yàn)其材料、配件或儀器設(shè)備耐高溫、耐寒性能及可能造成的損壞壽命縮減等。

執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1.GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)

2.GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 溫度沖擊試驗(yàn)

3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

3.GJB360B-2009 溫度沖擊試驗(yàn)

4.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫

6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)禁止：易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)，或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)；及儲(chǔ)存劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存試驗(yàn)或儲(chǔ)存過(guò)程中可能產(chǎn)生劇毒物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存。