沖擊試樣缺口投影儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)具有操作簡單，效率高，該試驗設(shè)備屏幕上標(biāo)有明顯刻度，可精確讀出缺口誤差。

根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求按照GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗方法》中沖擊試樣的要求而設(shè)計，開發(fā)的一種余檢查夏比V型或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，一確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。該試驗設(shè)備屏幕上標(biāo)有明顯刻度，可準(zhǔn)確讀出缺口誤差。

沖擊試樣缺口投影儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品參數(shù)：
投影屏 200×200mm
放大倍率 50X
V型缺口 深度：2mm,寬度：2mm
角度 45±1度
U型缺口 深度：2mm,寬度：2mm
光源 12V 100W（鹵鎢燈）
試樣臺調(diào)節(jié) 前、后、左、右、上、下、360°旋轉(zhuǎn)
電源 200V 50HZ 200W
外型尺寸 515×224×603mm
重量 約18kg

對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口*要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口*的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品或報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)投影放大檢查是*切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。